4001-123-022 
共聚焦顯微鏡拍照與普通熒光顯微鏡拍照有什么不同 - 分析行業(yè)新聞
日期：2023-02-19 16:07 瀏覽次數(shù)：93
共聚焦顯微鏡用激光做光源，光電倍增管做檢測(cè)器，逐點(diǎn)掃描，對(duì)應(yīng)每個(gè)像素其能量比較高；普通熒光顯微鏡用汞燈作為光源，雖然總功率高，但屬于場(chǎng)照明，對(duì)應(yīng)每個(gè)像素的能量并沒有激光高。 共聚焦利用針孔成像，可以排除焦平面上焦點(diǎn)以外及非焦平面雜散光的影響，因此空間分辨率提高，但因?yàn)槭敲總€(gè)像素每個(gè)像素逐點(diǎn)掃描，采集較慢，一張圖并不是同一時(shí)間采集的，時(shí)間分辨率不高；普通顯微鏡利用CCD成像，拍照取的是樣品的同一時(shí) 
間。
聯(lián)系我們
全國(guó)服務(wù)熱線
4001-123-022
公司：微儀光電臺(tái)式掃描電子顯微鏡銷售部
地址：天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號(hào)A座
相關(guān)資訊推薦
- SEM掃描電鏡如何進(jìn)行礦產(chǎn)資源評(píng)估
- SEM掃描電鏡怎么檢測(cè)文物的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分
- 掃描電鏡(SEM)拍攝條件選擇與拍攝常見問題的解決方法
- 我們?cè)谑褂肧EM掃描電鏡的過程中會(huì)遇到常見問題、原因及解決方案分享
- SEM掃描電鏡如何觀察細(xì)胞的超微結(jié)構(gòu)
- SEM掃描電鏡對(duì)于生物樣品要怎么制備
- SEM掃描電鏡如何分析各種環(huán)境樣品的形貌
- SEM掃描電鏡的基本原理介紹
- SEM掃描電鏡在集成電路領(lǐng)域中的優(yōu)勢(shì)介紹
- SEM掃描電鏡怎么檢測(cè)集成電路的制造缺陷
津公網(wǎng)安備12011002023086號(hào)
首頁
產(chǎn)品
案例
聯(lián)系